开展基于分布式传感技术的硅基光子集成芯片内部参数检测技术研究，实现光子芯片内部不连续反射现象的高精度、高分辨、高效率检测。面向硅基光子芯片的偏振管理问题提出若干小尺寸、高性能的片上微纳光学起偏器、偏振分束器等功能器件。
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